注册  登录    首页 | English
产品与技术
关键字:   产品分类:   
AE3100系列普通型/PON型光时域反射分析仪(OTDR)
功能特点
● 7寸触摸屏,专业、快捷的UI和UE;
●优秀的短距特性,事件盲区≤0.8m,衰减盲区≤3m;
●最短5cm的分辨率;
●卓越的智能事件分析能力,支持光回损测量、4点法损耗计算、跨段功能;
●齐全的用户数据接口,支持LAN、USB、SD等;
●可支持VFL、OPM、光纤显微镜、稳定光源、线性视图、远程测量等功能测试;
● AE3100 PON系列具有独特的PON网络测试功能,可穿透光分路器测试PON网络。
功能选配件列表
型号 动态范围dB VFL OPM 光源LS 线性视图
(FiberPath)
光纤显微镜 Fiber Tune 光纤清洁笔 光适配器
(FC/UPC)
光适配器(APC、
SC/LC/ST-APC)
AE3100A 30/28 订货前请标明
AE3100B 34/32 订货前请标明
AE3100C 36/34 订货前请标明
AE3100D 40/38 订货前请标明
AE3100E 43/41 订货前请标明
AE3100F 45/43 订货前请标明
AE3100G
(四波长)
37/35/35/35 订货前请标明
AE3100AP 35dB/33dB/33dB 订货前请标明
AE3100CP 37dB/35dB/35dB 订货前请标明
AE3100DP 40dB/38dB/38dB 订货前请标明
标配: ■ / 选配: □ / 无:X
技术参数
技术规格 AE3100A AE3100B AE3100C AE3100D AE3100E AE3100F AE3100G(四波长) AE3100AP AE3100CP AE3100DP
波长(nm) 1310/1550
1310/1550/1490/+可
定制
AP-1: 1625 nm
AP-2: 1650 nm
AP-3: 1490 nm
CP-1: 1625 nm
CP-2: 1650 nm
CP-3: 1490 nm
DP-1: 1625 nm
DP-2: 1650 nm
DP-3: 1490 nm
动态范围(dB) 30/28 34/32 36/34 40/38 43/41 45/43 37/35/35/35 35/33/33 37/35/35 40/38/38
脉冲宽度(ns) 3-20000
事件盲区(m) ≤1.5 ≤1 ≤0.8
衰减盲区(m) ≤5 ≤4 ≤3
距离范围(km) 0.1-200km 0.1-400km
采样分辨率(m) 0.1~12.8 0.04~12.8
采样点数 128000 256000
损耗门限(dB) 0.001
显示 7in (178mm) 800×480点阵 TFT 触摸屏
接口 USB2.0 ×2/RJ45×1/ LAN/10M/100M/Micro SD×1, 支持最大64GB
存储 支持80000条OTDR曲线
电池 支持最大10小时工作时间
尺寸/重量 206 x 171 x 75mm/约1.5kg(不含包装)
版权所有:天津市德力电子仪器有限公司    本网站所有下载资料仅供参考
地址:天津市西青区高新技术产业园区(外环)海泰创新三路8号
总机:022-27645003 传真:022-27645002 E-mail:market@deviser.com.cn
津ICP备16000820号-2